校准和测量能力介绍-透射电子显微镜校准
2024-09-27
透射电子显微镜校准和测量能力：
测量仪器名称：透射电子显微镜
校准参量：长度
校准方法：透射电子显微镜检定规程 JJG (教委)011-1996
测量范围：1000X～1000000X
扩展不确定度：Urel=5%
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校准和测量能力介绍-扫描探针显微镜校准
2024-09-27
扫描探针显微镜校准和测量能力：
测量仪器名称：扫描探针显微镜
校准参量：长度
校准方法：扫描探针显微镜校准规范JJF 1351-2012
测量范围：X、Y方向:(0～10)μm；Z方向：(0～200)nm
扩展不确定度：U=74nm，U=(5.0~7.7)nm
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校准和测量能力介绍-扫描电子显微镜校准
2024-09-27
扫描电子显微镜校准和测量能力：
测量仪器名称：扫描电子显微镜
校准参量：长度
校准方法：扫描电子显微镜校准规范JJF 1916-2021
测量范围：0.1μm~10μm
扩展不确定度：Urel=2.5%
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校准和测量能力介绍-激光粒度分析仪校准
2024-09-27
激光粒度分析仪校准和测量能力：
测量仪器名称：激光粒度分析仪
校准参量：粒径
校准方法：激光粒度分析仪校准规范JJF 1211-2008
测量范围：（1~200）μm
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校准和测量能力介绍-动态光散射粒度分析仪校准
2024-09-27
动态光散射粒度分析仪校准和测量能力：
测量仪器名称：纳米粒度分析仪
校准参量：粒径
校准方法：动态光散射粒度分析仪检定规程JJG1104-2015
测量范围：(60~100)nm；(200~700)nm
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校准和测量能力介绍-X射线能谱仪校准（未获认可）
2022-03-28
X射线能谱仪校准和测量能力：
测量仪器名称：X射线能谱仪
校准参量：含量
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