仪器信息:
FEI Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜产自美国FEI公司。本设备配备附件主要有：Gatan公司ultrascan CCD，高角环形暗场(HAADF)探测器，Oxford公司EDAX成分分析系统，Gatan公司后置式电子能量损失谱(PEELS)系统。
FEI Tecnai G2 F30透射电镜，可以进行的测试内容如下：
1、电子衍射和衍衬分析
2、高分辨电子显微成像(HRTEM)
3、扫描透射成像（STEM）
4、X射线能量色散谱(EDS)分析
5、电子能量损失谱(EELS)及能量过滤像(EFTEM)技术
6、3D-Tomography
主要技术指标为：
肖特基场发射枪(FEG)，点分辨率0.205 nm，线分辨率0.102 nm，信息分辨率0.14 nm，STEM-HAADF模式分辨率0.17 nm，物镜色差系数1.4 mm，物镜球差系数1.2 mm。电子衍射模拟和高分辨像模拟的计算工作采用Jems软件，主要用于模拟F30电镜上拍摄的实验像，模拟时对电镜的参数设置为：加速电压300 kV，物镜色差系数1.4 mm，物镜球差系数1.2 mm，能量扩展0.8 eV，半会聚角0.2 mrad。F30透射电镜除了可以常规的形貌、衍射和高分辨像观察外，配备的高角环形暗场探测器(HAADF)可以进行高角环形暗场像和Z-衬度像的采集；配备的特征X 射线能谱仪(EDS)可以进行纳米尺度的成分分析，能量分辨率为130eV
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