FEI F30 高分辨透射电子显微镜(TEM)
(MDTC-EQ-M17-01)
型号规格:FEI Tecnai G2 F30
仪器地址:能源楼负二楼
设备负责人:廖老师
联系电话:075526034629
注意事项:(一)重要提示: 1、如果需要取消测试请提前24小时取消,不足24小时的按预约机时的50%收费。 2、 请根据实际需要预约时常,实际测试时间应不小于预约时间的75%。 3、最快平均1个小时1个样,预约信息应描述测试要求、样品类型、所含元素名称等。 (二)仪器送样标准: 1、 样品彻底干燥,不含任何溶剂,避免损坏仪器;STEM项目及元素分布项目,对样品干燥度要求较高,需提前6小时送至电镜室在真空干燥处理;样品含Fe Co Ni元素的样品需提前预约T12进行快速筛样,样品过浓或尺寸大于500纳米的
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    FEI Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜产自美国FEI公司。本设备配备附件主要有:Gatan公司ultrascan CCD,高角环形暗场(HAADF)探测器,Oxford公司EDAX成分分析系统,Gatan公司后置式电子能量损失谱(PEELS)系统。

    FEI Tecnai G2 F30透射电镜,可以进行的测试内容如下:

    1 电子衍射和衍衬分析

    2 高分辨电子显微成像(HRTEM)

    3 扫描透射成像(STEM)

    4 X射线能量色散谱(EDS)分析

    5 电子能量损失谱(EELS)及能量过滤像(EFTEM)技术

    6 3D-Tomography

    主要技术指标为:肖特基场发射枪(FEG),点分辨率0.205 nm,线分辨率0.102 nm,信息分辨率0.14 nmSTEM-HAADF模式分辨率0.17 nm,物镜色差系数1.4 mm,物镜球差系数1.2 mm。电子衍射模拟和高分辨像模拟的计算工作采用Jems软件,主要用于模拟F30电镜上拍摄的实验像,模拟时对电镜的参数设置为:加速电压300 kV,物镜色差系数1.4 mm,物镜球差系数1.2 mm,能量扩展0.8 eV,半会聚角0.2 mradF30透射电镜除了可以常规的形貌、衍射和高分辨像观察外,配备的高角环形暗场探测器(HAADF)可以进行高角环形暗场像和Z-衬度像的采集;配备的特征X 射线能谱仪(EDS)可以进行纳米尺度的成分分析,能量分辨率为130eV

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